Bagaimana cara menggunakan dan membersihkan probe ujian dengan betul untuk memaksimumkan jangka hayat?
1. Faktor utama yang mempengaruhi hayat perkhidmatan probe
Sama ada strok probe ujian adalah voltan lampau, sama ada ia mempunyai campur tangan daya sisi, sama ada arus ujian lulus melebihi nilai undian, dsb.
2. Cara menggunakannya untuk memaksimumkan hayat probe
Probe ujian digunakan mengikut strok penggunaan yang disyorkan, untuk memastikan bahawa probe diregangkan secara menegak pada peranti, dan tidak melepasi jumlah arus, untuk memastikan peranti bersih dan kering, dsb.;
3. Jika hayat perkhidmatan melebihi 1 juta kali, apakah kesannya?
Pada masa ini, hanya tiga probe konvensional (GKS-050/075/100) siri ICT boleh mempunyai hayat perkhidmatan mekanikal sebanyak 100w kali, tetapi ini bukan hayat perkhidmatan sebenar, tetapi hayat perkhidmatan mekanikal spring. Selalunya disyorkan bahawa probe mesti diganti selepas penggunaan 30W. Oleh kerana bahagian dalam probe bersalut emas, lapisan bersalut emas akan jatuh selepas penggunaan jangka panjang. Manifestasi yang paling langsung ialah impedans probe menjadi lebih tinggi, yang sangat penting untuk kestabilan keputusan ujian. Impak besar.
Bahan cemar akan memasuki badan jarum apabila probe ujian bergerak dan melekat pada spring. Sesetengah bahan cemar akan menghakis spring, sesetengah bahan cemar akan melekat pada spring, dan beberapa bahan cemar akan terkumpul di tengah-tengah pusingan spring's dan menghalang spring daripada mengecut. Selepas bahan cemar terkumpul untuk satu tempoh masa, ia akan menyebabkan kerosakan yang tidak boleh diperbaiki pada musim bunga. Oleh itu, jika anda ingin meningkatkan hayat perkhidmatan probe, anda boleh merujuk kepada perkara berikut untuk penambahbaikan:
1. Bersihkan bahan cemar pada kepala probe dengan kerap. Gunakan berus elektrostatik kering semasa membersihkan, dengan hujung jarum selari dengan tanah
2. Pastikan titik pengukur bersih, dan jangan biarkan terlalu banyak rosin, fluks, dsb.
3. Probe ujian hendaklah digunakan dengan strok yang betul dan tidak boleh melebihi voltan
4. Suhu persekitaran aplikasi probe ujian tidak boleh melebihi nilai yang ditetapkan probe
5. Semasa proses ujian, probe ujian tidak boleh melibatkan daya sisi
6. Arus yang diuji oleh probe ujian tidak boleh melebihi nilai undian
7. Apabila probe ujian dikekalkan pada peralatan, sebaiknya gunakan alat profesional
