Kuar spring, juga dikenali sebagai pin Pogo, ialah sesentuh pegas yang digunakan dalam lekapan ujian elektronik untuk mewujudkan sambungan antara lekapan ujian dan peranti dalam ujian (DUT). Ia digunakan untuk menguji papan litar bercetak (PCB) dan komponen elektronik lain. Probe direka untuk menghubungi titik ujian DUT dan menyediakan sambungan elektrik yang boleh dipercayai. Ia boleh didapati dalam pelbagai jenis panjang, diameter dan pelocok untuk memenuhi keperluan anda.
Kuar spring dan pin Pogo adalah perkara yang sama. Ia adalah sesentuh pegas yang digunakan dalam lekapan ujian elektronik untuk mewujudkan sambungan antara lekapan ujian dan peranti dalam ujian (DUT). Ia digunakan untuk menguji papan litar bercetak (PCB) dan komponen elektronik lain. Probe direka untuk menghubungi titik ujian DUT dan menyediakan sambungan elektrik yang boleh dipercayai. Ia boleh didapati dalam pelbagai jenis panjang, diameter dan pelocok untuk memenuhi keperluan anda.
Kuar spring atau pin pogo digunakan dalam banyak aplikasi termasuk peranti perubatan, elektronik pengguna, robotik dan ujian PCB. Ia digunakan terutamanya untuk membetulkan litar dan mewujudkan sambungan konduktif dan komunikasi isyarat.
Kuar spring atau pin pogo digunakan dalam lekapan ujian elektronik untuk mewujudkan sambungan antara lekapan ujian dan peranti dalam ujian (DUT). Ia digunakan untuk menguji papan litar bercetak (PCB) dan komponen elektronik lain. Probe direka untuk menghubungi titik ujian DUT dan menyediakan sambungan elektrik yang boleh dipercayai. Ia boleh didapati dalam pelbagai jenis panjang, diameter dan pelocok untuk memenuhi keperluan anda.
Untuk menggunakan probe spring atau pin pogo, anda perlu terlebih dahulu menentukan jenis probe yang anda perlukan untuk aplikasi anda. Anda boleh memilih probe yang sesuai berdasarkan panjang, diameter dan jenis pelocoknya. Sebaik sahaja anda telah memilih probe, anda kemudian boleh memasukkannya ke dalam lekapan ujian dan membuat sentuhan dengan mata ujian DUT.
Kuar spring atau pin pogo telah digunakan dalam lekapan ujian elektronik selama bertahun-tahun. Ia pertama kali dibangunkan untuk menyediakan sambungan elektrik yang boleh dipercayai antara lekapan ujian dan peranti dalam ujian (DUT). Ia digunakan untuk menguji papan litar bercetak (PCB) dan komponen elektronik lain.