Pin PogoTest yang dimuatkan dengan spring

Banyak perkara yang kami telah terlibat dengan pastinya di nod lanjutan. Keselarian besar peranti ini mendorong orang ramai untuk menggunakan nod silikon yang paling canggih, terutamanya untuk bahagian logiknya. Kami telah melihat beberapa projek yang membingungkan dari segi saiz cetakan dan kiraan transistor. Untuk pengeluar kad siasatan, yang memacu bilangan kuar yang sangat besar. Untuk mendapatkan semua kuasa, terdapat beberapa isu kawalan haba yang dikaitkan dengan ujian. Tetapi keseluruhan antara muka ujian untuk cip logik kini menghampiri nombor dan skala yang kita lihat dalam ingatan hanya beberapa tahun yang lalu. Kad kuar memori tercanggih beberapa tahun lalu mungkin mempunyai 50,000 atau 60,000 kuar bagi setiap kad. Kami menghantar kad siasatan dengan bilangan probe itu untuk menguji beberapa enjin AI ini juga. Skala perkara ini sangat mengagumkan.

1637734182(1)

Pin PogoTest yang dimuatkan dengan spring

Teknologi kami menyediakan cara untuk membuat probe dengan ketepatan tahap mikron untuk menyambung ke I/O dan menghidupkan kami. Ciri ketepatan probe menjadikannya ideal untuk pic halus, keperluan kiraan pin tinggi nod proses semikonduktor terdepan, dan pembungkusan lanjutan, tetapi tidak semua probe dicipta sama. Memanfaatkan teknologi logam berpakaian untuk membolehkan rangkaian inovasi elektronik sempadan IC baharu.

Spinrg-loaded Pogo test Pins

Pin PogoTest yang dimuatkan dengan spring

Ini adalah beberapa die yang sangat besar. Apabila anda berfikir tentang ketumpatan dan kuasa semata-mata yang anda perlukan untuk masuk ke dalam cip, dan kemudian bilangan antara muka yang ada kepada dunia luar — ini adalah antara muka yang sangat rumit, dan oleh itu ujian dan alat ujian yang sangat rumit. FormFactor membuat beberapa pelaburan yang sangat besar dalam teknologi siasatan MEMS, yang merupakan satu-satunya cara kos efektif untuk mencapai jenis ketumpatan dan tahap prestasi yang diperlukan oleh orang ramai untuk menguji jenis cip ini. Terdapat cabaran teknikal, tetapi ia adalah bidang yang sangat menarik untuk diceburi kerana anda bekerjasama dengan beberapa pelanggan terkemuka di dunia untuk memajukan perkara ini.

Pin Probe

Pin PogoTest yang dimuatkan dengan spring

Untuk bahagian ujian perniagaan, dengan sebarang penglibatan yang diberikan, anda mendapat set pelanggan yang sangat menarik. Ia biasanya berbilang entiti di lokasi geografi yang berbeza yang anda bekerjasama pada masa yang sama. Terdapat rumah reka bentuk fabless, faundri, dan bergantung pada tempat ujian sedang dilakukan, boleh ada rumah ujian juga. Dan banyak pembangunan program ujian pergi ke beberapa ruang pembangunan algoritma dan kemudian bagaimana sistem akhir akan digunakan. Terdapat banyak pertunangan di mana anda tidak mempunyai seorang pelanggan. Anda mempunyai tiga pelanggan untuk satu reka bentuk. Dan semua orang perlu bekerjasama dan berkomunikasi dengan baik agar perkara ini berfungsi.

Plated Gold Pogo Pin Probe

Pin PogoTest yang dimuatkan dengan spring

Banyak daripada cabaran tersebut adalah tema yang sama yang telah kita lihat semasa kita beralih dari 20nm ke nod pertama, dan kemudian ke 10 dan 7nm. Salah satu cabaran ujian terbesar pelanggan ialah gabungan ketumpatan kuasa dan kawalan terma — cuba memastikan semasa mereka menguji cip, transistor dan cip keseluruhan beroperasi pada suhu yang konsisten dengan kes penggunaan biasa. Anda boleh menjalankan satu set vektor ujian melalui cip dan menghasilkan sejumlah besar haba, yang kemudian menyebabkan beberapa interaksi fizikal yang pelik dengan ujian keseluruhan. Oleh itu, kedua-dua kawalan terma, kerana ia berkaitan dengan strategi pemprosesan dan ujian, dan kemudian jumlah arus yang anda boleh masuk dan keluar dari cip, adalah beberapa cabaran terbesar yang kami lihat pada nod logik lanjutan tersebut. Terdapat ketumpatan kuasa yang luar biasa.

Probe pogo pin